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有些因素會影響涂層測厚儀的測量結(jié)果

更新時間：2023-10-27 點擊次數(shù)：1379次

涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

部分影響因素：

1.基體金屬電性質(zhì)：基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

2.基體金屬磁性質(zhì)：磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

3.曲率：試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

4.磁場：周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

5.試件的變形：測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

6.基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

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